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EeIE 2026 Unicomp: Intuizioni su scala micronica, forza resa tangibile

2026/08/27

ultime notizie aziendali su EeIE 2026 Unicomp: Intuizioni su scala micronica, forza resa tangibile
Radicati nella Grande Baia, abbracciano il mondo

L'intelligenza modella il futuro, l'industria guida la crescita

EeIE 2026 e UNICOMP

26-28 agosto 2026

Il 10 ° Shenzhen International Intelligent Equipment Industry Expo e la
la 13a Mostra Internazionale dell'Industria dell'attrezzatura elettronica di Shenzhen
(EEIE Expo)
 
Inizio grandioso al Shenzhen World Exhibition & Convention Center.

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Con un'area espositiva di 80.000 m2, questa edizione di EeIE Expo riunisce oltre 300 aziende di equipaggiamento leader in patria e all'estero e attira oltre 30.000 acquirenti professionali globali.Esso attira partecipanti provenienti da tutti i settori della catena industriale, compresi i semiconduttori, elettronica 3C, elettronica automobilistica, nuove industrie energetiche e linee di produzione automatizzate.

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UNICOMP (Stand No.: Hall 13‐C001) affronta i requisiti fondamentali di prova non distruttiva per la produzione di semiconduttori ed elettronica: visibilità chiara, ispezione rapida e giudizio accurato.La società fornisce servizi end-to-end, soluzioni di prova non distruttive a raggi X basate sull'IA, in grado di identificare una gamma completa di difetti nascosti.comprese le apparecchiature elettroniche a semiconduttori, nuovi settori energetici, imballaggi avanzati e moduli ottici.

AX9500: Sistema di ispezione a raggi X 3D-CT industriale a scala quasi nanometrica
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Imaging multimodale per componenti di precisione
Dotato di quattro modalità di imaging (2D / 2.5D / Cone-beam CT / Slice CT), il sistema rileva con precisione i difetti avanzati dell'imballaggio, come il bump bridging, i giunti della saldatura a freddo dei chip e i vuoti MEMS,soddisfare pienamente le esigenze dei clienti in diversi scenari di applicazione.

AX9600: attrezzature per l'ispezione a raggi X a tubo aperto a semiconduttore
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Ispezione di materiali spessi ad alta densità con risoluzione pressoché nanoscala
Grazie ad un rapporto di ingrandimento geometrico estremamente elevato, il sistema rileva facilmente una vasta gamma di difetti in 3D e sistema in pacchetto (SiP), legame del filo IC e altri processi.Esso cattura dettagli precisi delle micro caratteristiche all'interno delle strutture TGV e TSV, rompendo efficacemente i colli di bottiglia di lunga data per l'ispezione dei difetti altamente impegnativa nel settore.

LX9200: attrezzature di ispezione in linea di precisione 3D basate sull'IA
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Ricostruzione rapida di componenti complessi in pochi secondi
Combinando la tecnologia di imaging istantaneo ad alta velocità con una proiezione obliqua a 360°, il sistema ricostruisce rapidamente le strutture interne di parti ad alta densità e di forma speciale.Rileva i difetti su scala sub-microna come i giunti di saldatura a freddo, vuoti e crepe ad alta velocità, rispondendo alle esigenze delle imprese per un controllo di qualità di alta qualità e operazioni automatizzate di grandi volumi.

Copertura a spettro completo dei componenti principali
Lo sviluppo interno di sorgenti a raggi X non solo garantisce la sicurezza della catena di approvvigionamento e i tempi di consegna, ma consente anche un'ottimizzazione collaborativa approfondita tra le sorgenti a raggi X,rilevatore e algoritmiQuesta capacità supporta requisiti personalizzati di fascia alta e continua iterazione tecnologica.
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Autonomo e controllabile, produzione di massa sicura
La serie di sorgenti a raggi X microfocalizzate di UNICOMP®, sviluppata da Unicomp®, offre una copertura di tensione a spettro completo che va da 90 kV a 225 kV.fornisce un supporto tecnologico di base autosufficiente per l'ispezione intelligente di fascia alta.

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In futuro, UNICOMP continuerà ad approfondire il suo layout nel percorso di ispezione intelligente.la società costruirà continuamente un sistema di ispezione intelligente multimodale per consentire la produzione senza difetti nell'industria manifatturiera di fascia alta.
 
Il prossimo.: Nessuno