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CSEAC 2026. UNICOMP vi invita a esplorare l'ispezione intelligente basata su piattaforme per l'imballaggio e il test dei semiconduttori.

2026/09/03

ultime notizie aziendali su CSEAC 2026. UNICOMP vi invita a esplorare l'ispezione intelligente basata su piattaforme per l'imballaggio e il test dei semiconduttori.

CSEAC 2026 e UNICOMP
31 agosto 2 settembre
La 14a Mostra di attrezzature, materiali e componenti principali per semiconduttori (CSEAC 2026)
si è tenuta al Wuxi Taihu International Expo Center.

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Con un'area espositiva di oltre 70.000 m2, questa edizione del CSEAC ha attirato la partecipazione continua di imprese di tutti gli Stati Uniti, Giappone, Corea del Sud, Germania,Italia e altri paesi e regioniPiù di 1.400 espositori nazionali ed esteri si sono riuniti in occasione dell'evento, che copre settori quali le attrezzature per la fabbricazione di wafer, le attrezzature per l'imballaggio e il collaudo,componenti di base e materiali semiconduttori.



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L'UNICOMP (Stand: Hall A3-107) fa una comparsa di alto profilo con la sua tecnologia di test non distruttivi a scala nanometrica basata sull'IA.La soluzione rompe i difficili colli di bottiglia della rilevazione dei difetti in processi quali il 3D / System-in-Package (SiP) e il collegamento di fili IC, consentendo ai clienti di progredire verso una produzione intelligente a difetto zero.



AX9500
3D/CT industriale a scala quasi nanometrica

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Con l'integrazione di quattro modalità di imaging (2D / 2.5D / CT a fascio conico / CT planare), il sistema rileva difetti critici come il colpo di ponte del wafer,saldatura a freddo a chip e vuoti nella fabbricazione MEMS per applicazioni a livello di wafer e di imballaggio avanzato, per soddisfare le esigenze diversificate di tutti gli scenari dei clienti.


AX9600
Sistema di ispezione intelligente a tubo aperto a raggi X per semiconduttori

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Dotato di funzionalità 2.5D e di un controllo omnidirezionale dell'asse XY a 360°, il sistema fornisce un'analisi senza zone morte di difetti nascosti sotto i chip, compresi i vuoti di saldatura,ponteggi e fessure di interconnessione.



Serie completa R&S interna pone una solida base per la sostituzione domestica

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La serie di sorgenti a raggi X UNMS, sviluppata da UNICOMP, copre l'intero spettro di tensione da 90 kV a 230 kV, con percorsi tecnici sia a tubo sigillato che a tubo aperto.Non solo garantisce il massimale di prestazioni e la stabilità di consegna delle attrezzature di ispezione dell'UNICOMP, ma fornisce anche un supporto vitale per la catena industriale nazionale indipendente e controllabile delle apparecchiature per semiconduttori.



Collaborazione basata su piattaforme per l'ispezione intelligente multimodale

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UNICOMP è esposta accanto a SSTI, Semiconductor e Yifeng Electronics,abilitare l'aggiornamento del confezionamento e delle prove dei semiconduttori attraverso servizi di ispezione intelligenti basati su piattaforme.


Nel frattempo, al Forum tematico speciale sulla tecnologia e le attrezzature di metrologia, Julian Pan, amministratore delegato di Saimeikang Semiconductor (filiale dell'UNICOMP),è stato invitato a presentare una presentazione sulle tendenze dell'evoluzione e sulla tabella di marcia per l'attuazione di soluzioni di ispezione ottica a livello di wafer e di matrici, offrendo informazioni all'avanguardia sulla diagnosi dei difetti per processi di imballaggio avanzati.



La precisione su scala nanometrica fornisce una qualità affidabile degli imballaggi e dei test

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In futuro, UNICOMP continuerà a perseguire il suo obiettivo di sviluppo di costruire “un'impresa basata su piattaforme per tecnologie di ispezione intelligenti globali e attrezzature di ispezione di fascia alta”,fornire ai clienti soluzioni uniche che coprano le tecnologie di ispezione multimodale.