Ispezione Smart Nano, Approfondimenti sul Futuro! Unicomp Technology AX9600 Premiato con l'EM Innovation Award
2026/03/28
Il 26 marzo 2026 si è tenuta a Shanghai la 21ª cerimonia di premiazione EM Innovation Awards.
Dotato di capacità avanzate tra cui "cattura di difetti completi a livello di 0,8 µm, imaging su nanoscala e ispezione intelligente AI a gamma completa",
l'AX9600 di Unicomp Technology ha vinto l'EM Innovation Award.
X-RAY a tubo aperto di Unicomp
Apparecchiatura di ispezione intelligente per semiconduttori AX9600
Apparecchiatura di ispezione intelligente per semiconduttori AX9600
Dotato della sorgente a raggi X microfocus aperta da 160 kV sviluppata da Unicomp, soddisfa facilmente i requisiti di ispezione dei chip di calcolo AI come HBM e GPU, nonché delle applicazioni di packaging avanzato.
• Super ingrandimento 2000X • Imaging in tempo reale ad alta definizione
• Ispezione omnidirezionale a 360° • Misurazione automatica dei difetti basata sull'IA
Essendo un riconoscimento di grande prestigio nel settore della produzione elettronica,l'EM Innovation Award seleziona i fornitori che hanno dato contributi eccezionali allo sviluppo e all'innovazione del settore,
sulla base di sette dimensioni tra cui capacità di innovazione, miglioramento della capacità produttiva e avanzamento dei processi.
Questo riconoscimento sottolinea che le solide prestazioni dell'AX9600 hanno ottenuto un alto plauso sia dall'industria che dal mercato,dimostrando inoltre la piena fiducia e la forte preferenza dei clienti del settore per Unicomp Technology.
